SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所
簡要描述:
SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所 可以與探針結(jié)合使用,以測量“黑色"和“非黑色"金屬基材上的涂層。電磁/渦流兩用膜厚計。根據(jù)要測量的對象,可以連接兼容的鐵質(zhì)(電磁)探頭,有色金屬基體(渦流)探頭和鐵質(zhì)/有色金屬基體(雙)探頭。另外,您可以根據(jù)應(yīng)用和測量范圍選擇適合于測量微小碎片等的連接探針,例如高穩(wěn)定性探針。除了JIS K 5600標準外,它還符合政府機關(guān),實驗室,實驗室,各種公
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品時間:2024-05-20
SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所
特征
可以與探針結(jié)合使用,以測量“黑色”和“非黑色”金屬基材上的涂層。
電磁/渦流兩用膜厚計。根據(jù)要測量的對象,可以連接兼容的鐵質(zhì)(電磁)探頭,有色金屬基體(渦流)探頭和鐵質(zhì)/有色金屬基體(雙)探頭。
另外,您可以根據(jù)應(yīng)用和測量范圍選擇適合于測量微小碎片等的連接探針,例如高穩(wěn)定性探針。
除了JIS K 5600標準外,它還符合政府機關(guān),實驗室,實驗室,各種公司,組織,內(nèi)部法規(guī),標準以及海外標準(例如ISO 2808)的標準。
內(nèi)置統(tǒng)計功能
所有存儲數(shù)據(jù),組,塊和分區(qū)數(shù)據(jù)都可以在LCD屏幕上統(tǒng)計顯示。
易于理解的指南顯示屏幕
易于理解的指南顯示屏幕
在液晶顯示屏上顯示信息。簡單易懂的操作指南。
上/下限值限制功能
可以為每條記錄的校準曲線設(shè)置一組極限值。如果測量值超出上限/下限范圍,則設(shè)定的限值會閃爍并發(fā)出警報。這對于快速確定膠片是否在控制標準規(guī)定的范圍內(nèi)(例如在工廠生產(chǎn)過程中)很有用。
纖薄的機身設(shè)計減少了手持疲勞
與傳統(tǒng)的膜厚計(虛線部分)相比,它的主體細長。婦女和小手都具有出色的抓地力。
校準曲線配準功能
記錄的校準曲線數(shù)為100(9300)。測量之前,請務(wù)必進行兩點調(diào)整,“零調(diào)整”和“標準調(diào)整”。這兩個調(diào)整的組合稱為校準曲線(基本特性)。校準曲線會根據(jù)金屬基板的材料,形狀,厚度等而變化,但是您可以在注冊并選擇與特性匹配的校準曲線后立即開始測量。
大容量測量值存儲功能
數(shù)據(jù)存儲功能可實現(xiàn)多點測量,每天檢查數(shù)千個膜厚,一個人即可執(zhí)行測量和記錄工作??梢怨?jié)省勞力并降低檢查工作的成本。記憶數(shù)為40,000點。您可以工作而不必擔心剩余的內(nèi)存。測量數(shù)據(jù)分為組,塊等并保存。
SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所
主機液晶顯示項目
數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C
可以使用USB電纜將其連接到PC以傳輸測量數(shù)據(jù)。每次執(zhí)行測量時實時傳輸。也可以一次發(fā)送存儲在存儲器中的數(shù)據(jù)。
SWT數(shù)據(jù)傳輸表
可以使用數(shù)據(jù)傳輸表將實時或內(nèi)存測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娮颖砀褴浖﨧icrosoft Excel *。(必須安裝USB傳輸驅(qū)動程序才能進行
傳輸。) 數(shù)據(jù)傳輸工作表需要Microsoft Excel 2002/2003/2007/2010中的任何一個都可以在其中運行的環(huán)境(Windows * XP / Vista / 7)。(與64Bit不兼容)
可以從Sanko Denshi實驗室的網(wǎng)站下載USB驅(qū)動程序和數(shù)據(jù)傳輸表。
三口電子研究所首頁
*以上組合不能保證操作。
* Microsoft Excel和Windows是Microsoft Corporation在美國的注冊商標。
應(yīng)用(測量例)
(使用電磁探針時,磁性金屬上的非磁性膜) | 使用渦流探頭時(非磁性金屬上的絕緣膜) | |
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基礎(chǔ) | 鐵,鋼,鐵素體不銹鋼 | 鋁,鋁合金,銅,奧氏體不銹鋼 |
涂料[繪畫] | 設(shè)備,汽車,輪船,橋梁,鋼結(jié)構(gòu)等 | 鋁制品,不銹鋼室內(nèi)外建筑材料,機械,水箱等 |
涂層[襯里] | 樹脂,焦油環(huán)氧,橡膠,搪瓷,薄板等 | 各種設(shè)備,零件,化工廠等 |
涂層[其他] | [電鍍]鋅,銅,鉻,錫等 | [陽極氧化膜(鋁酸鹽)]鋁制品,鋁框格,廚房用具,家用電器等 |
涂層[其他] | Metallicon,Parkerizing,氧化膜,噴涂膜等 |
租賃選項產(chǎn)品
- 渦流膜厚計探頭NFe-8
規(guī)范
身體
測量范圍 | 取決于連接探針 |
---|---|
顯示方式 | 圖形液晶顯示屏(數(shù)據(jù)信息),帶背光功能 |
校正曲線校正 | 2點校準類型(零點/標準調(diào)整點) |
校準曲線記憶 | 100片 |
測量值記憶 | 40,000點 |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB低功耗無線 |
統(tǒng)計功能 | 內(nèi)置機身 |
附加功能 | 帶背光 的測量模式切換(保持/連續(xù)) 校準曲線校準值刪除 自動關(guān)閉電源(約3分鐘,帶OFF功能) 顯示分辨率切換 上下限值設(shè)置 |
電源供應(yīng) | AA電池x 2,AC適配器 |
工作溫度 | 0-40°C(無凝結(jié)) |
尺寸 | 72(W)x 30(H)x 156(D)毫米 |
重量 | 210克 |
探測
普通探頭
模型 | NFe-8 *選項 |
---|---|
測量方式 | 渦流類型 |
測量范圍 | 0?8毫米 |
顯示分辨率 | 1μm:0至999μm0.01 mm:1至8 mm |
測量精度 | 0至100μm:±(1μm+指示值的2%) 101μm至8.00 mm:在指示值的±2%以內(nèi) |
探測 | 1點恒壓接觸式,V切 φ35×61mm |
測量對象 | 用于 測量相對較厚的物體, 例如鋁和銅等非磁性金屬基材上的絕緣涂層 |
SWT-9000系列探頭
模型 | FN-325 |
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測量方式 | 用于電磁和渦流(自動基板識別) |
測量范圍 | 鐵基板:0至3.00毫米,非鐵基板:0至2.50毫米 |
顯示分辨率 | 1μm的:0?999μm(黑色和有色金屬常見) 通過切換 為0.1μm:0?400μm的(黑色和有色金屬公用) 0.5微米:400?500微米(鐵,非鐵公用) 0.01毫米:1.00?3.00毫米(鐵基質(zhì)) |
測量精度(垂直于光滑表面測量) | 0至100μm:±1μm(鐵和非鐵金屬常見)或指示值的 ±2%以內(nèi) 101μm至3.00 mm:±2%以內(nèi)(鐵基板) 101μm至2.50 mm:±2%以內(nèi)(有色金屬基板) |
探測 | 1點恒壓接觸式,V切 φ13×52mm |
測量對象 | 鐵基:在鋼鐵等磁性金屬基體上的涂層,襯里,噴涂,電鍍(不包括電解鎳鍍層) 非鐵基:在鋁和銅等非磁性金屬基體上的絕緣涂層對于被測物體 |