日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410
簡要描述：
日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410光源使用近紅外光并測量1000的光澤度（100％鏡面反射率）。它是一種方便的類型，只需將顯示單元和分離的測量單元放在主體上即可進(jìn)行測量，以方便現(xiàn)場工作。預(yù)熱是不必要的。適用于需要高水平表面光澤的產(chǎn)品的質(zhì)量控制，例如用于照明的反射器，例如汽車前燈，復(fù)印機(jī)反射器和硅晶片。特點(diǎn)
產(chǎn)品型號(hào)：IG-410
產(chǎn)品時(shí)間：2024-05-17
打印當(dāng)前頁日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410
- 即使在金屬等高光澤區(qū)域，也能量化“模糊”
。在光澤檢測器IG系列的產(chǎn)品陣容中增加了能夠測量金屬等高光澤區(qū)域的IG-410。測量范圍從傳統(tǒng)型號(hào)的0到1000倍擴(kuò)大到10倍。也可以測量鏡面樣品。 - 緊湊輕巧的設(shè)計(jì)，簡單的現(xiàn)場測量：
僅350克，便于攜帶。由于它是一觸式操作，因此可以投入生產(chǎn)并輕松測量。
無需擔(dān)心光源的壽命，因?yàn)樗褂肔ED作為光源。 - 低光澤度也可以
通過2范圍切換來測量，0到100，2范圍切換0到1000是可能的。每個(gè)系列都有自己的校準(zhǔn)板。
IG-410支持測量低光澤區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品以及高光澤金屬。
應(yīng)用實(shí)例
- 用于完成金屬產(chǎn)品表面狀況的確認(rèn)
- 用于檢查鋁和不銹鋼軋制板的外觀
- 檢查電鍍產(chǎn)品的外觀
- 用于確認(rèn)硅晶片表面光潔度
※由于光澤度是通過光反射測量的，因此測量點(diǎn)必須是平坦的。
日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410
光學(xué)系統(tǒng) | 入射角60° - 接收角60° |
|---|---|
測量區(qū)域 | 3x6mm橢圓 |
光源 | LED（波長890納米） |
光接收器 | SPD（硅光電二極管） |
測量范圍 | 100范圍：0.0到100.0（顯示分辨率0.1） |
重復(fù)性 | 滿量程的±1％ |
電源 | AA干電池×4件 |
電池壽命 | 200小時(shí)以上（使用堿性電池） |
工作溫度范圍 | 10至40°C |
維 | 主體：75W x 34D x 140H mm |
塊 | 大約350克（內(nèi)置電池時(shí)） |
其他功能 | 自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)斷電 |
附件 | 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)板，適用于100范圍和1000范圍 |